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                      貼片電容寿命测试方法与检测指标

                      貼片電容的壽命有兩層含義,其一是老化壽命,其二是使用壽命。
                      貼片電容的老化寿命一般没有多大实际意义。一颗電容即便生产出来很多年,也一样可以正常使用。这个和晶振不太一样。当然如果仓储环境达不足,出厂时间久的貼片電容端电极有可能老化,导致焊接性能下降。因此原则应该购买出厂一年以内的产品。

                      風華高科对貼片電容的使用寿命一般采用如下方式进行测试:
                      貼片電容
                      1、測試方法
                      1.1 、低压貼片電容(≤100V)
                      电压:1.5 倍额定工作电压
                      时间:1000 小时
                      温度:125℃(NPO、X7R) 85℃(X5R、 Y5V)
                      充電電流:不應超過50mA
                      放置條件:室溫
                      放置时间:24 小时(Ⅰ类),或48 小时(Ⅱ类),

                      1.2、中高压貼片電容
                      100V≤额定电压<500V:2 倍工作电压
                      500V≤额定电压≤1000V:1.5 倍工作电压
                      额定电压>1000V:1.2 倍工作电压
                      时间:1000 小时
                      充電電流:不應超過50mA
                      温度:125℃(NPO X7R);85℃(X5R、Y5V)
                      放置條件:室溫
                      放置时间:24 小时(Ⅰ类),或48小时(Ⅱ类)
                       
                      2、測試標准:
                      ΔC/C
                      Ⅰ类:≤±2%或±1pF 取两者之中较大者
                      Ⅱ类:B,X: ≤±20% ;E,F: ≤±30%

                      ΔC/C:
                      Ⅰ類:≤±2%或±1pF取兩者之中較大者
                      Ⅱ类:B,X: ≤±20%;E,F: ≤±30%
                      DF:
                      ≤2 倍初始标准

                      IR
                      Ⅰ类:Ri≥4000MΩ或 Ri• CR≥40S 取两者之中较小者.
                      Ⅱ类:Ri≥2000MΩ或 Ri• CR≥50S 取两者之中较小者.

                      外觀
                      無損傷

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